Skip to main content
. 2024 Nov 11;124(22):12391–12462. doi: 10.1021/acs.chemrev.3c00806

Table 1. Selected Representative Studies Exploring Variations in Cdl Values Based on Electrode (Sub)surface Compositionsa.

composition Cdl potential method electrolyte ref
GC 6 pFd 0 V DC AC-SICM 50 mM KCl (75)
Au 4 pFd 0 V DC AC-SICM 50 mM KCl (75)
GC 40 μF cm–2 0 V vs Ag/AgCl EIS 50 mM KCl (75)
Au 20 μF cm–2 0 V vs Ag/AgCl EIS 50 mM KCl (75)
Pt(111) 25 μF cm–2 pzc EIS 0.05 M LiClO4 (198, 393)
Au(111) 14 μF cm–2 pzc EIS 0.05 M LiClO4 (198, 393)
Au 7 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Ag 41 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Pd 10 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Pt 35 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Alb 56 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Crb 31 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Feb 62 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
FTOc 8 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Nib 31 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
NiFeb 27 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
NiFe(OH) 20 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Tab 21 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Tib 22 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
NiS 17 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
CoSe 8 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
NiSe 25 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
C 17 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M NaClO4 (396)
Au 9 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Ag 7 μF cm–2 –600 mV vs Ag/AgCl CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Pd 16 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Pt 22 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Alb 6 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Crb 16 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Feb 17 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
FTOc 7 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Nib 12 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
NiFeb 9 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
NiFe(OH) 7 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Tab 12 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
Tib 15 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
NiS 10 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
CoSe 8 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
NiSe 3 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
C 10 μF cm–2 ±50 mV OCP CV 0.15 M KPF6, CH3CN (396)
low-carbon steel coated with tin 70–100 nFd OCP LEIS 1 mM KClO4 (73)
epoxy phenolic varnish 45 nFd OCP LEIS 1 mM KClO4 (73)
Al alloy (oxide)b 40 pFd/0.1 μF cm–2 OCP LEIS 10 mM KCl (244)
PMMA 3 pF OCP LEIS 10 mM KCl (244)
Pd(111) 27 μF cm–2 pzfc dEIS 5 mM NaF (399)
Pd10 ML/Pt(111) 35 μF cm–2 pzfc dEIS 5 mM NaF (399)
Pd3 ML/Pt(111) 30 μF cm–2 pzfc dEIS 5 mM NaF (399)
PdML/Pt(111) 40 μF cm–2 pzfc dEIS 5 mM NaF (399)
AgML/Ir(111) 30 μF cm–2 pzc dEIS 5 mM KClO4 (400)
AgML/Rh(111) 28 μF cm–2 pzc dEIS 5 mM KClO4 (400)
AgML/Pd(111) 22 μF cm–2 pzc dEIS 5 mM KClO4 (400)
AgML/Au(111) 24 μF cm–2 pzc dEIS 5 mM KClO4 (400)
AgML/Pt(111) 24 μF cm–2 pzc dEIS 5 mM KClO4 (400)
Ag(111) 18 μF cm–2 pzc dEIS 5 mM KClO4 (400)
Pt31.2Pd43.3Ir9.8Ru14.2Ag1.4 (0.35 ± 0.04) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
Pt32.3Pd45.2Ir9Ru12.5Ag9.7 (0.39 ± 0.03) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
Pt26.5Pd44.6Ir11.7Ru16.1Ag1.1 (0.32 ± 0.02) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
Pt18Pd38.4Ir18Ru24.3Ag1.3 (0.23 ± 0.01) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
Pt19.6Pd45.6Ir16.1Ru17.6Ag1.1 (0.28 ± 0.02) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
Pt17.8Pd62.1Ir11.3Ru8.0Ag0.8 (0.3 ± 0.01) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
Pt13.4Pd33.6Ir23.8Ru27.9Ag1.4 (0.23 ± 0.02) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
Pt12.2Pd39.9Ir26.2Ru21Ag0.9 (0.24 ± 0.02) V vs Ag/AgCl pzc SECCM 10 mM HClO4 (247)
a

The table columns list the material (sub)surface compositions, corresponding Cdl values, potentials at which Cdl values were determined, methods used, electrolytes employed, and references cited. It should be noted that several Cdl values are estimated from the original published data. This table serves as a comprehensive overview of the cited literature.

b

Oxide-passivated surface during experimental conditions with the bulk most likely in its fully reduced state.

c

Fully bulk conductive oxides.

d

No surface normalization due to the usage of scanning probe approaches.