TABLE 2.
Characterization of the LPS masking effect by analysis of the phage sensitivities of bacteria grown at 22°C
Strain | SP (22°C) | φR8-01 | φR1-37 |
---|---|---|---|
YeO3 | --OC | − | − |
YeO3-c | --OC | − | − |
YeO3-Ail | --OC | − | − |
YeO3-c-Ail | --OC | − | − |
YeO3-OC | --O- | − | − |
YeO3-c-OC | --O- | − | − |
YeO3-Ail-OC | --O- | − | − |
YeO3-c-Ail-OC | --O- | − | − |
YeO3-R2 | ---C | − | + |
YeO3-R1 | ---C | − | + |
YeO3-Ail-R | ---C | − | + |
YeO3-c-Ail-R | ---C | − | + |
YeO3-OCR | ---- | + | − |
YeO3-c-OCR | ---- | + | − |
YeO3-Ail-OCR | ---- | + | − |
YeO3-c-Ail-OCR | ---- | + | − |