Skip to main content
. 2014 Dec 11;74(12):3134. doi: 10.1140/epjc/s10052-014-3134-6

Table 5.

Summary of the systematic uncertainties taken into account for the total expected number of events. Values are provided at m = 1 TeV (2 TeV) to give representative estimates relevant to this search. The PDF variation values shown for signal are based on CI. For the ADD signal they are uniform at 6 % and 3 % in the dielectron and dimuon channels, respectively. Signal systematic uncertainties are assessed as a function of the corresponding parameter of interest but are not found to vary greatly. N/A indicates that the uncertainty is not applicable

Source Dielectrons Dimuons
Signal Background Signal Background
Normalization 4.0 %  (4.0 %) N/A 4.0 %  (4.0 %) N/A
PDF Variation <0.1 %  (0.2 %) 5.0 %  (11.0 %) <0.1 %  (<0.1 %) 5.0 %  (12.0 %)
PDF Choice N/A 1.0 %  (7.0 %) N/A 1.0 %  (6.0 %)
αS N/A 1.0 %  (3.0 %) N/A 1.0 %  (3.0 %)
EW Corrections N/A 1.0 %  (2.0 %) N/A 1.0 %  (3.0 %)
Photon-Induced N/A 7.0 %  (12.0 %) N/A 6.5 %  (9.5 %)
Efficiency 1.0 %  (2.0 %) 1.0 %  (2.0 %) 3.0 %  (6.0 %) 3.0 %  (6.0 %)
Scale & Resolution 1.2 %  (2.4 %) 1.2 %  (2.4 %) 1.0 %  (4.0 %) 1.0 %  (4.0 %)
Electron Charge Misident. 1.2 %  (2.0 %) 1.2 %  (2.0 %) N/A N/A
Multi-Jet & W+Jets N/A 3.0 %  (5.0 %) N/A N/A
Beam Energy 1.0 %  (3.0 %) 1.0 %  (3.0 %) 1.0 %  (3.0 %) 2.0 %  (3.0 %)
MC Statistics 3.0 %  (3.0 %) 0.5 %  (0.5 %) 3.0 %  (3.0 %) 0.5 %  (0.5 %)
Total 5.5 %  (6.9 %) 9.5 %  (19.4 %) 6.0 %  (9.3 %) 9.2 %  (18.7 %)