To view this manuscript, please click on the link to the PDF in the upper right corner.
Contributor Information
The NIH CIT Consortium Chemistry Manufacturing Controls Monitoring Committee:
J. Ansite, A.N. Balamurugan, B. Barbaro, J. Battle, D. Brandhorst, J. Cano, X. Chen, S. Deng, D. Feddersen, A. Friberg, T. Gilmore, J.S. Goldstein, E. Holbrook, A. Khan, T. Kin, J. Lei, E. Linetsky, C. Liu, X. Luo, K. McElvaney, Z. Min, J. Moreno, D. O’Gorman, K.K. Papas, G. Putz, C. Ricordi, G. Szot, T. Templeton, L.J. Wang, L. Wang, J.J. Wilhelm, J. Willits, T. Wilson, and X. Zhang
The NIH CIT Consortium:
J. Avila, B. Begley, J. Cano, S. Carpentier, E. Holbrook, J. Hutchinson, C.P. Larsen, J. Moreno, M. Sears, N.A. Turgeon, D. Webster, S. Deng, J. Lei, J.F. Markmann, N.D. Bridges, C.W. Czarniecki, J.S. Goldstein, G. Putz, T. Templeton, T. Wilson, T.L. Eggerman, P. Al-saden, J. Battle, X. Chen, A. Hecyk, H. Kissler, X. Luo, M. Molitch, N. Monson, E. Stuart, A. Wallia, L. Wang, S. Wang, X. Zhang, D. Bigam, P. Campbell, P. Dinyari, T. Kin, N. Kneteman, J. Lyon, A. Malcolm, D. O’Gorman, C. Onderka, R. Owen, R. Pawlick, B. Richer, S. Rosichuk, D. Sarman, A. Schroeder, P.A. Senior, A.M.J. Shapiro, L. Toth, V. Toth, W. Zhai, K. Johnson, J. McElroy, A.M. Posselt, M. Ramos, T. Rojas, P.G. Stock, G. Szot, B. Barbaro, J. Martellotto, J. Oberholzer, M. Qi, L.J. Wang, Y. Wang, L. Bayman, K. Chaloner, W. Clarke, J.S. Dillon, C. Diltz, G.C. Doelle, D. Ecklund, D. Feddersen, E. Foster, L.G. Hunsicker, C. Jasperson, D-E Lafontant, K. McElvaney, T. Neill-Hudson, D. Nollen, J. Qidwai, H. Riss, T. Schwieger, J. Willits, J. Yankey, R. Alejandro, A.C. Corrales, R. Faradji, T. Froud, A.A. Garcia, E. Herrada, H. Ichii, L. Inverardi, N. Kenyon, A. Khan, E. Linetsky, J. Montelongo, E. Peixoto, K. Peterson, C. Ricordi, J. Szust, X. Wang, M.H. Abdulla, J. Ansite, A.N. Balamurugan, M.D. Bellin, M. Brandenburg, T. Gilmore, J. V. Harmon, B.J. Hering, R. Kandaswamy, G. Loganathan, K. Mueller, K.K. Papas, J. Pedersen, J.J. Wilhelm, J. Witson, C. Dalton-Bakes, H. Fu, M. Kamoun, J. Kearns, Y. Li, C. Liu, E. Luning Prak, Y. Luo, E. Markmann, Z. Min, A. Naji, M. Palanjian, M. Rickels, R. Shlansky-Goldberg, K. Vivek, A.S. Ziaie, L. Fernandez, D.B. Kaufman, L. Zitur, D. Brandhorst, A. Friberg, and O. Korsgren